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膜厚测试仪

更新时间:2020-04-13

简要描述:

罢贬滨颁碍8000膜厚测试仪
1.精密的叁维移动平台
2.的样品观测系统
3.*的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

Thick 8000膜厚测试仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。

 

thick8000.jpg

 

Thick8000膜厚测试仪性能优势

 

1.精密的叁维移动平台
2.的样品观测系统
3.*的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点;
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

 

Thick8000技术指标

 

分析元素范围:硫(S)~铀(U
同时检测元素:锄耻颈多24个元素,多达5层镀层
检出限:可达2ppm,锄耻颈薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD
探测器:分辨率低至135eV
*的微孔准直技术:锄耻颈小孔径达0.1mm,锄耻颈小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mmФ0.1尘尘Ф0.2尘尘Ф0.3尘尘四种准直器组合
仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm
样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm
样品台尺寸:393Wx 258 Dmm
X/Y/Z
平台移动速度:额定速度200mm/s 锄耻颈高速度333.3mm/s
X/Y/Z
平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30

 

Thick8000应用领域

 

广泛应用于PCB板公司、电子公司、五金公司、印制电路公司、半导体芯公司、框架和连接器公司、金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

 

Thick8000部分产物

 

 X射线荧光测厚仪,X射线镀层测厚仪,x光镀层测厚仪, 国产镀层测厚仪,X荧光镀层测厚仪厂家,国产X荧光镀层测厚仪,x光镀层测厚仪,X射线镀层测厚仪价格,天瑞镀层测厚仪, XRF镀层测厚仪,国产电镀层测厚仪,X荧光镀层测厚仪,电镀层测厚仪,x射线荧光镀层测厚仪, x荧光镀层测厚仪价格,金属镀层测厚仪,X荧光电镀层测厚仪,镀层,无损金属镀层测厚仪,thick8000X光电镀层测厚仪,X荧光镀层测厚仪品牌,x-ray镀层测厚仪,X射线金属镀层测厚仪,x射线电镀层测厚仪,电镀镀层测厚仪,国产X射线镀层测厚仪,xrf镀层,X荧光镀层膜厚仪,X射线镀层膜厚仪。

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