黑料社区今日黑料

产物介绍

X射线金属镀层测厚仪是黑料社区今日黑料的优势产物，打破了国外垄断的局面，主要用于金属镀层——镀金，镀镍，镀锌，镀锡，镀铜，镀银，镀铑，镀钯等厚度的检测，广泛应用在电器电器、五金工具、汽车配件、高压开关、制冷设备、精密五金、电镀加工、卫浴、PCB线路板等公司，thick8000是黑料社区今日黑料款的X射线金属镀层测厚仪，叁维移动平台和高清射线系统，使整个测试更加精确、清晰。

性能优势

精密的叁维移动平台

的样品观测系统

*的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；

直接点击全景或局部景图像选取测试点；

点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。

四种微孔聚焦准直器，自动切换

双重保护措施，实现无缝防撞

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动自检、复位；

技术指标

SDD探测器：分辨率低至135eV

分析元素范围：硫（S）～铀（U）

X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 锄耻颈高速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um

同时检测元素：锄耻颈多24个元素，多达5层镀层

分析含量：一般为2ppm到99.9%

镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）

*的微孔准直技术：锄耻颈小孔径达0.1mm,锄耻颈小光斑达0.1mm

样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1尘尘、Ф0.2尘尘与Ф0.3尘尘四种准直器组合

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

厂家介绍

江苏黑料社区今日黑料股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型公司。 2011年1月25日，黑料社区今日黑料在深圳创业板块上市。股票代码为300165。

公司的X荧光检测技术具有快速、精确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

部分产物

 x-ray膜厚仪，镀金镀银测厚仪，ROHS检测仪（EDX1800EDX1800B)，直读光谱仪， ROHS检测设备，手持式合金分析仪，气相质谱仪，液相质谱仪，原子荧光光谱仪，电感耦合等离子发射光谱仪，手持式光谱仪，等离子体质谱仪， 镀层膜厚测试仪，便携式不锈钢材质检测仪，合金材质光谱检测仪，便携式X荧光能谱仪，X荧光镀层测厚仪，X荧光光谱仪，不锈钢合金分析仪，ROHS六项检测仪，X射线荧光测厚仪，X荧光测厚仪，ROHS仪器，气质联用仪，液质联用仪，ROHS卤素检测仪，便携式水质重金属检测仪，x荧光光谱分析仪，手持式xrf合金分析仪，手持式光谱分析仪，x射线荧光测厚仪，气相色谱质谱联用仪，液相质谱联用仪，便携式合金分析仪，ROHS测试仪，x-ray镀层测厚仪，环保ROHS检测仪，ROHS荧光光谱仪，手持式金属检测仪，手持式水质重金属分析仪，镀层检测仪，手持式金属材料分析仪，手持式光谱仪，X射线金属镀层测厚仪等仪器。

售后服务

售后服务片区（划分）、和技术引导与维护。服务片区划分已经*覆盖全国主要省市，主要根据客户的分布和公司业务区域的划分，把中国大陆划分12个工作区域， 包括：广州、佛山、湖北片区，厦门片区，珠海、中山、云贵川片区， 山东片区，苏州、安徽、上海片区，北京、天津、河南、河北片区，惠州、汕头、福建片区，深圳、东莞片区，浙江片区、山西、陕西西北片区，青海片区、东北叁省片区。另外，除中国大陆以外片区香港、中国台湾及海外片区。公司通过等远程维护、*、返厂维修以及对客户使用人员的技术培训来实现技术的应到和维护。

黑料社区今日黑料作为X射线金属镀层测厚仪生产厂家，分析仪器上市公司，产物质量、售后服务、价格都具有的优势。

工作原理

若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。

下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射，此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。

特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。

使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。