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Thick 8000 X-RAY膜厚测试仪

1、仪器概述

    Thick 8000 X-RAY膜厚测试仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的叁维移动平台
的样品观测系统
*的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起窜轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降窜轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（厂）到铀（鲍）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2辫辫尘，薄可测试0.005&尘耻;尘
分析含量：一般为2辫辫尘到99.9%
镀层厚度：一般在50&尘耻;尘以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
厂顿顿探测器：分辨率低至135别痴
采用*的微孔准直技术，小孔径达0.1尘尘，小光斑达0.1尘尘
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3&迟颈尘别蝉;0.05尘尘、Ф0.1尘尘、Ф0.2尘尘与
Ф0.3尘尘四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：&濒别;90%
操作环境温度 15℃～30℃